音頻芯片中的信號是模擬的，如同在電腦上輸出的line信號，經過功放后可以驅動喇叭。模擬音頻信號經過ADC采樣為數字音頻信號，再通過編碼壓縮減少數據量，壓縮成數字音頻信號。同理，也可以通過DAC還原成最原始的模擬音頻信號。
隨著數字信號處理技術和數字電路工作速度的提高，以及對于系統靈敏度等要求的不斷提高，對于高速、高精度的ADC指標都提出了很高的要求。
ADC芯片的性能測試是由芯片生產廠家完成的，這時，就需要進行ADC測試來驗證芯片在板級或系統級應用上的真正性能指標。
首先，我們來普及個概念，也就是什么是ADC。
ADC稱為模數轉換器（簡稱A/D轉換器或ADC，analog-to-digital converter），A/D轉換的作用是將時間連續、幅值也連續的模擬量轉換為時間離散、幅值也離散的數字信號。一句話概括：ADC是模數轉換器，是模擬量轉數字量，也就是模擬量輸入。
ADC的主要指標分為靜態指標和動態指標2大類。
靜態指標主要有：
Differential Non-Linearity (DNL)
Integral Non-Linearity (INL)
OffsetError
FullScale Gain Error
動態指標主要有：
Totalharmonic distortion (THD)
Signal-to-noise plus distortion (SINAD)
Effective Number of Bits (ENOB)
Signal-to-noise ratio (SNR)
Spurious free dynamic range (SFDR)
要進行ADC這些眾多指標的驗證，基本的方法是給ADC的輸入端輸入一個理想的信號，然后對ADC轉換以后的數據進行采集和分析，因此，ADC的性能測試需要多臺儀器的配合并用軟件對測試結果進行分析。下圖是一個典型的ADC測試圖。
我們不忙著展開，在此之前，我們先了解下ADC測試的相關客戶群和關注的測試重點 。
ADC測試相關客戶群
第一類是傳統ADC廠商，其將模擬信號單純轉換為二進制的數值。這類廠商的測試比較復雜，測項包含靜態指標和動態指標。
對于第一類客戶，即傳統ADC廠商，這類客戶通常關注的是信號源的指標，比如：
1. 期望的底噪，或THD+N，或SNR相關指標需求。
2. 提供交流信號時，是否需要額外添加直流偏置電壓。
第二類則是音頻類ADC廠商，其將模擬信號最終轉換為特定音頻格式的數字信號（如PDM，I2S，TDM等）此類客戶主要是音頻Codec廠商，其也會有DAC的測試需求。
順帶提一句，DAC的作用是和 ADC 相反，是把數字量轉換成模擬量，雖然有模擬和數字的區別，但是DAC要測試的主要指標與ADC類似，也分為靜態指標和動態指標2種。
靜態指標主要有：
Differential Non-Linearity (DNL)
Integral Non-Linearity (INL)
OffsetError
FullScale Gain Error
Conversion Rate
Settling Time
Rising/Falling Time
動態指標主要有：
Totalharmonic distortion (THD)
Signal-to-noise plus distortion (SINAD)
Effective Number of Bits (ENOB)
Signal-to-noise ratio (SNR)
Spurious free dynamic range (SFDR)
對于第二類客戶，通常關注點是：
1. 期望的底噪，或THD+N，或SNR相關指標需求。
2. 是否支持某種特定數字格式。
3. 針對數字信號部分，如何建立與AP模塊的連接（如用到我們AP測試設備）
話說，這類芯片相關的終端用戶需求，AP同樣可以完成，例如喇叭，麥克風 測試等等。
AP設備對于ADC測試的優勢
我們還是分第一類和第二類客戶來展開。
對于第一類客戶，即傳統ADC廠商，AP分析儀主要作用是提供高質量的「信號源發生器」。
第1點 · 良好的THD+N性能
- APx 555B -
